服務熱線
SpectroSense2 冠層光譜測量系統(tǒng)
更新時間：2025-07-01
訪問次數(shù)：4331
測量冠層、地表等地物的不同波譜段光譜，反映地表反射、輻射光的真實情況，可用來研究不同地物表面的光譜特征，及隨著時間變化被測地物光譜的變化特征。用戶選擇不同波段的傳感器可以用于計算NDVI，解析衛(wèi)星遙感圖像等。
一、用途：
測量冠層、地表等地物的不同波譜段光譜，反映地表反射、輻射光的真實情況，可用來研究不同地
物表面的光譜特征，及隨著時間變化被測地物光譜的變化特征。用戶選擇不同波段的傳感器可以用于計算NDVI，解析衛(wèi)星遙感圖像等。
二、原理：
同時利用不同波段光傳感器測量被測物的反射、輻射光譜值，利用數(shù)據(jù)采集器和相應的處理軟件記錄、計算被測物的光譜特性。
三、系統(tǒng)組成：
該系統(tǒng)一般由以下及部分組成：
- ·主機系統(tǒng)：手持式數(shù)據(jù)采集器
- ·支架
- ·傳感器平衡指示器
- ·用戶選定的不同波段帶寬的傳感器（用戶可以根據(jù)需要進行定制，傳感器符合英國國家標準，有校正和響應曲線）
- ·可選的各種光傳感器：如PAR， 紅外/遠紅外，總輻射，LUX，UVA，UVB（以上所有傳感器均符合英國國家標準，有校正和響應曲線）
四、基本技術指標：
·精度：0.008％ at 20C for mid rang
·存儲：1000個讀數(shù)或存滿覆蓋模式
·電池：60個小時
·供電：1個9伏電池
五、產地：英國
上一篇： PSIPlantPen葉夾式PRI測量儀
下一篇：手持式光譜測量儀