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發(fā)布時(shí)間: 2026-08-10 點(diǎn)擊次數(shù): 391次近日,北京易科泰順利完成SpectraScan高光譜成像儀交付培訓(xùn)工作,正式落地煤炭科學(xué)研究總院沈陽(yáng)研究院地質(zhì)勘探實(shí)驗(yàn)室,該系統(tǒng)能夠同步采集巖石樣品空間成像信息 + 物質(zhì)光譜指紋,為該院巖石樣本甄別、多類礦物識(shí)別、礦山蝕變帶勘測(cè)、巖芯數(shù)字化等科研工作補(bǔ)齊高通量無(wú)損檢測(cè)硬件能力。

系統(tǒng)主要特點(diǎn)如下:
a) PTS 技術(shù),樣品自動(dòng)傳送、一鍵自動(dòng)采集900-1700nm反射光高光譜成像
b) 嵌入式主機(jī)系統(tǒng),內(nèi)置溫濕度、光照度,實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)環(huán)境參數(shù)
c) 一體式全中文界面軟件:一鍵自動(dòng)數(shù)據(jù)采集,內(nèi)置算法模型,自動(dòng)執(zhí)行校準(zhǔn)程序
d) 具備位置記憶功能,一鍵保存、讀取自定義位置,便于周期性重復(fù)測(cè)量
e) SpectrAPP©高光譜成像分析軟件:具備波段融合、ROI分析、光譜分析、直方圖統(tǒng)計(jì)、SG濾波、紋理分析、形態(tài)分析、路徑分析等功能,一鍵導(dǎo)出分析結(jié)果
f) 推薦選配1000-2500nm SWIR短波紅外高光譜成像,直接更換測(cè)量
g) 可選配中波紅外(2.7-5.3µm)高光譜成像、或長(zhǎng)波紅外(7.7-12.3µm)高光譜成像,用于識(shí)別檢測(cè)黑色塑料、碳?xì)浠衔?、環(huán)境分析、熱異常、礦物質(zhì)(如石英、長(zhǎng)石)等
h) 可選配LIBS元素分析技術(shù),單次測(cè)量即可覆蓋元素周期表中幾乎所有元素

安裝過(guò)程中通過(guò)實(shí)驗(yàn)室特色樣品——沉積巖:泥巖、煤,進(jìn)行實(shí)驗(yàn)演示,采集并分析數(shù)據(jù)。分析結(jié)果如下:

北京易科泰
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